美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪_深圳市金东霖科技有限公司

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美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪

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博曼X-RAY膜厚测试仪是一种可由.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素，应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.可快速测量17号元素氯到92号元素镭的所有元素：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

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